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Reliability of MEMS : testing of materials and devices
Advanced micro & nanosystems : 6
(
Alle Bände
)
Tabata, Osamu
[Herausgeber]
2008
Signatur:
YFB3421-6
Details
Autor(en) / Beteiligte
Tabata, Osamu
[Herausgeber]
Titel
Reliability of MEMS : testing of materials and devices
Ist Teil von
Advanced micro & nanosystems : 6
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Weinheim : Wiley-VCH
Erscheinungsjahr
2008
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9783527314942
OCLC-Nummer: 255824479, 255824479
Titel-ID: 990009830470106463
Format
XX, 303 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YFB
Schlagworte
MEMS
,
Zuverlässigkeit
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