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Series on integrated circuits and systems
2007
Signatur: YEP3281

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS
Ist Teil von
  • Series on integrated circuits and systems
Ort / Verlag
Dordrecht : Springer
Erscheinungsjahr
2007
Link zu anderen Inhalten
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9781402051876
OCLC-Nummer: 255569240, 255569240
Titel-ID: 990009647890106463
Format
XXVII, 254 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YEP

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