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Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS
Series on integrated circuits and systems
Chiang, Charles C
Kawa, Jamil
2007
Signatur:
YEP3281
Details
Autor(en) / Beteiligte
Chiang, Charles C
Kawa, Jamil
Titel
Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS
Ist Teil von
Series on integrated circuits and systems
Ort / Verlag
Dordrecht : Springer
Erscheinungsjahr
2007
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Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9781402051876
OCLC-Nummer: 255569240, 255569240
Titel-ID: 990009647890106463
Format
XXVII, 254 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YEP
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