Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- Reliability and failure of electronic materials and devices
- Ort / Verlag
- San Diego [u.a.] : Academic Press
- Erscheinungsjahr
- 1998
- Link zu anderen Inhalten
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISBN: 0125249853OCLC-Nummer: 605937953, 605937953Titel-ID: 990009466340106463
- Format
- XXI, 692 S. : Ill., graph. Darst.
- Systemstelle
- YFB
- Schlagworte
- Elektronisches Bauelement, Zuverlässigkeit