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Failure mechanisms in semiconductor devices
2. ed, 1997
Signatur: YEM2214(2)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Failure mechanisms in semiconductor devices
Auflage
2. ed
Ort / Verlag
Chichester [u.a.] : Wiley
Erscheinungsjahr
1997
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0471954829
OCLC-Nummer: 636544828, 636544828
Titel-ID: 990009206110106463
Format
XII, 345 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YEM
Schlagworte
Halbleiterbauelement, Defekt

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