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Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state
Springer tracts in modern physics : 182 (Alle Bände), Physics and astronomy online library
2003
Signatur: UAY4098-182

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state
Ist Teil von
Ort / Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
2003
Link zu anderen Inhalten
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 3540004149
OCLC-Nummer: 612050759, 612050759
Titel-ID: 990008888550106463
Format
XII, 238 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UAY
Schlagworte
Verbindungshalbleiter, Nanostruktur, Durchstrahlungselektronenmikroskopie

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