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J2EE design patterns : patterns in the real world
1. ed, 2003
Signatur: TWP17652

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
J2EE design patterns : patterns in the real world
Auflage
1. ed
Ort / Verlag
Beijing [u.a.] : O'Reilly
Erscheinungsjahr
2003
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0596004273
OCLC-Nummer: 249624564, 249624564
Titel-ID: 990008745120106463
Format
XVI, 350 S. : graph. Darst.
Systemstelle
TWP
Schlagworte
Java 2 Enterprise Edition, Entwurfsmuster

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