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Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995. 3
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors (Alle Bände)
1995

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995. 3
Ist Teil von
Ort / Verlag
Zuerich-Uetikon : Trans Tech Publ.
Erscheinungsjahr
1995
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Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0878497145
OCLC-Nummer: 916099627, 916099627
Titel-ID: 990006979350106463
Format
LXIII S., S. 1110 - 1562 : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIM

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