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Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995
Materials science forum : 196,201 (Alle Bände)
Signatur: UIM1628-196/201

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995
Ist Teil von
Ort / Verlag
Zuerich-Uetikon : Trans Tech Publ.
Bände
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0878497161
OCLC-Nummer: 614027544, 614027544
Titel-ID: 990006979320106463
Format
–
Systemstelle
UIM
Schlagworte
Halbleiter, Gitterbaufehler

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