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Near infrared microscopy a simple but effective technique to analyze microdefects in GaAs
Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2939 (Alle Bände)
1994
Signatur: MQ5124

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Near infrared microscopy a simple but effective technique to analyze microdefects in GaAs
Ist Teil von
Ort / Verlag
Jülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek
Erscheinungsjahr
1994
Sprache
Englisch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 722016639, 722016639
Titel-ID: 990006646830106463
Format
107 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIU, UIO
Schlagworte
Microscopy / methods, Crystallization

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