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IDDq testing for CMOS VLSI
Artech House optoelectronics library
1995
Signatur: YEP3029

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
IDDq testing for CMOS VLSI
Ist Teil von
  • Artech House optoelectronics library
Ort / Verlag
Boston, Mass. [u.a.] : Artech House
Erscheinungsjahr
1995
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0890067260
OCLC-Nummer: 636748866, 636748866
Titel-ID: 990006539600106463
Format
XII, 193 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YFB, YEP
Schlagworte
CMOS-Schaltung, VLSI

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