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BibTeX
Entwicklung von Verfahren zur Abschätzung der Chipfläche, Laufzeiten und Verlustleistung integrierter Schaltungen
Kirsch, Karlheinz
1993
Signatur:
D8604
Details
Autor(en) / Beteiligte
Kirsch, Karlheinz
Titel
Entwicklung von Verfahren zur Abschätzung der Chipfläche, Laufzeiten und Verlustleistung integrierter Schaltungen
Erscheinungsjahr
1993
Beschreibungen/Notizen
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 1993
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 636955709, 636955709
Titel-ID: 990006519380106463
Format
III, 189 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YET
Schlagworte
CMOS-Schaltung
,
Kundenspezifische Schaltung
,
Layout
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