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Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikroskops und erste Messungen an oxidischen Proben
Wiechers, Joachim
1993
Signatur:
D8595
Details
Autor(en) / Beteiligte
Wiechers, Joachim
Titel
Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikroskops und erste Messungen an oxidischen Proben
Erscheinungsjahr
1993
Beschreibungen/Notizen
München, Univ., Diss., 1993
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 636869607, 636869607
Titel-ID: 990006486910106463
Format
149 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UFF
Schlagworte
Oxide
,
Kristallfläche
,
Rasterkraftmikroskopie
,
Ultrahochvakuum
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