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Zur Störstellenanalyse von Halbleitern : ein Methodenvergleich
1993
Signatur: D8218

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Zur Störstellenanalyse von Halbleitern : ein Methodenvergleich
Erscheinungsjahr
1993
Beschreibungen/Notizen
  • Braunschweig, Techn. Univ., Diss., 1993
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1071992784, 1071992784
Titel-ID: 990006336750106463
Format
128, [94] S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIU
Schlagworte
Halbleiterwerkstoff, Tiefe Störstelle, Aktivierungsenergie, Messung, Bewertung

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