Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Impurities, defects and diffusion in semiconductors: bulk and layered structures : symposium held November 27 - December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A
Ist Teil von
Ort / Verlag
Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society
Erscheinungsjahr
1990
Link zu anderen Inhalten
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 1558990518
OCLC-Nummer: 632326594, 632326594
Titel-ID: 990006092070106463
Format
XXIV, 1050 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIU
Schlagworte
Halbleiter, Diffusion, Gitterbaufehler

Lade weitere Informationen...