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Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991
Materials science forum : 83,87 (Alle Bände), Defects in semiconductors : 16 (Alle Bände)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991
Ist Teil von
Ort / Verlag
Zürich [u.a.] : Trans Tech Publ.
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0878496289
OCLC-Nummer: 61897477, 61897477
Titel-ID: 990005902520106463
Format
–
Systemstelle
UIM
Schlagworte
Halbleiter, Gitterbaufehler

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