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Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15 - 18, 1985, San Francisco, Calif., U.S.A
Materials Research Society symposia proceedings : 46 (Alle Bände)
1985
Signatur: UAL6273

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15 - 18, 1985, San Francisco, Calif., U.S.A
Ist Teil von
Ort / Verlag
Pittsburgh, Pa.
Erscheinungsjahr
1985
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0931837111
OCLC-Nummer: 630498082, 630498082
Titel-ID: 990004492030106463
Format
XV, 604 S. : graph. Darst., Ill.
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Halbleiter, Gitterbaufehler, Mikroskopie

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