Autor(en)
International Conference on Defects in Semiconductors; Institute of Physics
Titel
Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors 14. Paris, France, August 18-22, 1986 Pt. 3
Teil von
Ort / Verlag
Wechselnde Verlagsorte @ : wechselnde Verleger
Erscheinungsjahr
1986
Format
XXVIII S., S. 827 - 1270 : Ill., graph. Darst.
Sprache(n)
Identifikator(en)
ISBN: 0-87849-551-7
Links zum Inhalt
Schlagwörter
Halbleiter, Gitterbaufehler, Konferenzschrift
Systemstelle
UAL
Signatur
UAL6061-14,3

Exemplare

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UAL6061-14,3Kurzausleihe
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Ebene 3
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