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Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an Eisen-dotiertem Silizium
1982
Signatur: DQ584

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an Eisen-dotiertem Silizium
Erscheinungsjahr
1982
Beschreibungen/Notizen
  • Stuttgart, Univ., Diss., 1982
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1067521857, 1067521857
Titel-ID: 990003878320106463
Format
93 S. : graph. Darst.
Schlagworte
Silicium, Dotierung, Eisen, Tiefe Störstelle, Photokapazität, Photoleitung, Photokapazitätsmessung

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