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Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
A Wiley biomedical-health publication
Siegel, Benjamin M
[Herausgeber]
1975
Signatur:
UAL2172
Details
Autor(en) / Beteiligte
Siegel, Benjamin M
[Herausgeber]
Titel
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
Ist Teil von
A Wiley biomedical-health publication
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Wiley
Erscheinungsjahr
1975
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0471790206
OCLC-Nummer: 635563840, 635563840
Titel-ID: 990000626140106463
Format
XIII, 474 S. : zahlr. Ill. u. graph. Darst.
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Elektronenmikroskopie
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