Details

Autor(en) / Beteiligte

• Alam, M[Mitwirkender]
• Argon, A. S[Mitwirkender]
• Bell, J. P[Mitwirkender]
• Berg, S[Mitwirkender]
• Berndt, C. C[Mitwirkender]
• Botticelli, V[Mitwirkender]
• Bouzziri, M[Mitwirkender]
• Boyce, M. C[Mitwirkender]
• Brown, Sherman D[Mitwirkender]
• Buchwalter, L. P[Mitwirkender]
• Cho, Y. R[Mitwirkender]
• Collins, C. B[Mitwirkender]
• Dale, William C[Mitwirkender]
• Davanloo, F[Mitwirkender]
• Dillard, David A[Mitwirkender]
• Dole, P[Mitwirkender]
• Edwards, R. A[Mitwirkender]
• Farris, R. J[Mitwirkender]
• Feger, C[Mitwirkender]
• Freeman, D. R[Mitwirkender]
• Fromm, E[Mitwirkender]
• Frushour, Bruce G[Mitwirkender]
• Galipeau, D. W[Mitwirkender]
• Gerberich, W. W[Mitwirkender]
• Goldfarb, J. L[Mitwirkender]
• Grace, J. M[Mitwirkender]
• Gupta, Vijay[Mitwirkender]
• Holloway, K[Mitwirkender]
• Hsieh, A. J[Mitwirkender]
• Hu, X.-Z[Mitwirkender]
• Hua, Susan Z[Mitwirkender]
• Jayachandran, R[Mitwirkender]
• Jensen, H. M[Mitwirkender]
• Jin, Zhujing[Mitwirkender]
• Kattamis, T. Z[Mitwirkender]
• Kinbara, Akira[Mitwirkender]
• Kohlstedt, D. L[Mitwirkender]
• Kondo, Ichiharu[Mitwirkender]
• Kosel, W[Mitwirkender]
• Lacombe, R. H[Mitwirkender]
• Lai, Yeh-Hung[Mitwirkender]
• Lee, T. J[Mitwirkender]
• Liang, J.-L[Mitwirkender]
• Lin, C. K[Mitwirkender]
• Liu, Changqing[Mitwirkender]
• MIttal, K. L[Herausgeber]
• Matthews, A[Mitwirkender]
• McHargue, C. J[Mitwirkender]
• Mehta, A[Mitwirkender]
• Mittal, K. L[Mitwirkender]
• Müller, D[Mitwirkender]
• Nelson, J. C[Mitwirkender]
• Ohlhausen, J. A[Mitwirkender]
• Ollivier, B[Mitwirkender]
• Ooij, W. J. Van[Mitwirkender]
• Park, H[Mitwirkender]
• Pawel, J. E[Mitwirkender]
• Peebles, D. E[Mitwirkender]
• Pronin, Alexander[Mitwirkender]
• Ramos, F[Mitwirkender]
• Roche, A. A[Mitwirkender]
• Sabata, A[Mitwirkender]
• Sarin, V. K[Mitwirkender]
• Spahn, R. G[Mitwirkender]
• Su, Quanmin[Mitwirkender]
• Swain, M. V[Mitwirkender]
• Thouless, M. D[Mitwirkender]
• Vaughn, George D[Mitwirkender]
• Venkataraman, S. K[Mitwirkender]
• Vetelino, J. F[Mitwirkender]
• Vieira, M. T[Mitwirkender]
• Weppelmann, E. R[Mitwirkender]
• Wuttig, Manfred[Mitwirkender]
• You, J. H[Mitwirkender]
• Yu, Li[Mitwirkender]
• Yu, Zhiming[Mitwirkender]
• Yuan, Jun[Mitwirkender]
• Zappia, J[Mitwirkender]

Titel

Adhesion Measurement of Films and Coatings : Proceedings of the International Symposium on Adhesion Measurement of Films and Coatings held in Boston, 5–7 December 1992, under the auspices of Skill Dynamics. -

Auflage

Reprint 2020

Ort / Verlag

Berlin : De Gruyter

Erscheinungsjahr

[2022]

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Beschreibungen/Notizen

• Mode of access: Internet via World Wide Web
• In English.