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International Conference on Test and Measurement : proceedings
International Conference on Test and Measurement
Details
Autor(en) / Beteiligte
International Conference on Test and Measurement
Titel
International Conference on Test and Measurement : proceedings
Link zum Volltext
IEEE Electronic Library (IEL)
Verfügbar von 2009.
Druckausgabe
Verknüpfte Titel
Beschreibungen/Notizen
Description based on print version record.
Sprache
–
Identifikatoren
ISSN: 2157-5606
OCLC-Nummer: 528476910
Titel-ID: 9925166035206463
Format
–
Schlagworte
Electronic apparatus and appliances
,
Operating systems (Computers)
,
Information technology