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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
2665-2022 - IEEE Recommended Practice for Statistical Process Control for EMC Test Laboratories
Ort / Verlag
New York, USA : IEEE,
Erscheinungsjahr
2023
Beschreibungen/Notizen
  • Guidance is provided on how to verify electromagnetic compatibility (EMC) test performance through the use of statistical process control (SPC) and examples of setups. Employing SPC, the validity of tests can be monitored by a laboratory by recording data in such a way that trends are detectable, and an assessment of test system stability can be made. Laboratory quality checks that use SPC are a powerful tool to provide confidence, to both the laboratory and its customer, that test results will be correct.
  • Description based on publisher supplied metadata and other sources.
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 1-5044-9369-9
DOI: 10.1109/IEEESTD.2023.10025652
Titel-ID: 9925165217506463
Format
1 online resource (42 pages)
Schlagworte
Electromagnetic compatibility