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2012 28th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
2012
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
2012 28th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Ort / Verlag
[Place of publication not identified] : IEEE
Erscheinungsjahr
2012
Beschreibungen/Notizen
  • Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
  • English
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1-4673-1111-1, 1-4673-1109-X
Titel-ID: 9925162690106463
Format
–