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Test digitaler Schaltkreise
[2014]
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Test digitaler Schaltkreise
Ort / Verlag
München ; Wien : De Gruyter Oldenbourg
Erscheinungsjahr
[2014]
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Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 9783486720143, 9783486990737, 9783486720136
DOI: 10.1524/9783486720143
OCLC-Nummer: 881365675, 881365675
Titel-ID: 990369772440206441
Format
1 online resource (238 p.)
Schlagworte
Digital circuit testing, Schaltkreis, Testen, digital circuits, digital, testing, Testmustergenerierung, Digitalschaltung, Fehlermodell, Eingebettetes System, Built-in self test, COMPUTERS / Computer Science