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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology
Ort / Verlag
[Verlagsort nicht ermittelbar] : KIT Scientific Publishing
Erscheinungsjahr
2013
Link zum Volltext
Beschreibungen/Notizen
  • Open Access
  • Control systems at production plants consist of a large number of process variables. When detecting abnormal behavior, these variables generate an alarm. Due to the interconnection of the plants devices the fault can lead to an alarm flood. This again hides the original location of the causing device. In this work several data-driven approaches for root cause localization are proposed, compared and combined. All methods analyze disturbed process data for backtracking the propagation path
  • ENGLISH
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 9783731500988
Titel-ID: 990363897330206441
Format
1 electronic resource (XVIII, 194 p. p.)
Schlagworte
Electronic computers. Computer science