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BibTeX
Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience
Zuo, Jian Min
Spence, John C.H
2017
Details
Autor(en) / Beteiligte
Zuo, Jian Min
Spence, John C.H
Titel
Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience
Ort / Verlag
New York, NY : Springer New York
Erscheinungsjahr
2017
Link zum Volltext
Springer Chemistry & Materials Science 2017 (ZDB-2-CMS)
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Inhaltsverzeichnis
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9781493966073
DOI: 10.1007/978-1-4939-6607-3
OCLC-Nummer: 1075730060, 1075730060
Titel-ID: 990214000200206441
Format
1 Online-Ressource (XXVI, 729 p. 310 illus., 218 illus. in color)
Schlagworte
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
,
Elektronenmikroskopie
,
Hochauflösendes Verfahren
,
Materials science
,
Nanochemistry
,
Solid state physics
,
Nanoscale science
,
Nanoscience
,
Nanostructures
,
Nanotechnology