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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014. Proceedings [Elektronische Ressource]
2014

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014. Proceedings [Elektronische Ressource]
Ort / Verlag
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg
Erscheinungsjahr
2014
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Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9783662444153
DOI: 10.1007/978-3-662-44415-3
OCLC-Nummer: 889232069, 889232069
Titel-ID: 990205112960206441
Format
XX, 478 p. 124 illus
Schlagworte
Computer science, Computer software, Database management, Data mining, Artificial intelligence, Optical pattern recognition