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Applied Scanning Probe Methods II : Scanning Probe Microscopy Techniques [Elektronische Ressource]
NanoScience and Technology
2006
Volltextzugriff (PDF)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Applied Scanning Probe Methods II : Scanning Probe Microscopy Techniques [Elektronische Ressource]
Ist Teil von
  • NanoScience and Technology
Ort / Verlag
Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Erscheinungsjahr
2006
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 9783540274537
DOI: 10.1007/b139097
OCLC-Nummer: 262692459, 262692459
Titel-ID: 990156312250206441
Format
–
Schlagworte
Nanotechnology, Surfaces (Physics), Analytical biochemistry, Chemistry, Physical organic, Polymers, Particles (Nuclear physics)