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Defects in electronic materials. 2. Symposium held December 2 - 6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A
Defects in electronic materials
(
Alle Bände
),
... : 442
(
Alle Bände
)
1997
Signatur:
UAL6304-2
Details
Titel
Defects in electronic materials. 2. Symposium held December 2 - 6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A
Ist Teil von
Defects in electronic materials
(
Alle Bände
)
... : 442
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society
Erscheinungsjahr
1997
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Inhaltsverzeichnis
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1558993460
OCLC-Nummer: 313039645, 313039645
Titel-ID: 990018505760106463
Format
XVII, 711 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Halbleiter
,
Gitterbaufehler
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