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Test and diagnosis for small-delay defects
2011
Signatur: TWT6901

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Test and diagnosis for small-delay defects
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
2011
Link zu anderen Inhalten
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9781441982964, 1441982965
OCLC-Nummer: 762156346, 762156346
Titel-ID: 990015841950106463
Format
XVIII, 212 S. : Ill., graph. Darst.; 24 cm
Systemstelle
TWT
Schlagworte
Integrated circuits / Very large scale integration / Defects, Integrated circuits / Very large scale integration / Testing, Delay faults (Semiconductors)

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