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Surface and thin film analysis : a compendium of principles, instrumentation, and applications
2., compl. rev. and enl. ed, 2011
Signatur: UIY2624(2)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Surface and thin film analysis : a compendium of principles, instrumentation, and applications
Auflage
2., compl. rev. and enl. ed
Ort / Verlag
Weinheim : Wiley-VCH
Erscheinungsjahr
2011
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Verknüpfte Titel
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9783527320479, 3527320474
OCLC-Nummer: 724412100, 724412100
Titel-ID: 990014132900106463
Format
XXIV, 533 S. : zahlr. Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIY
Schlagworte
Dünne Schicht, Oberflächenanalyse

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