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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2004 and SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004. Proceedings [Elektronische Ressource]
2004
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2004 and SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004. Proceedings [Elektronische Ressource]
Ort / Verlag
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Erscheinungsjahr
2004
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9783540278689
OCLC-Nummer: 1076190855, 1076190855
Titel-ID: 990013866790106463
Format
–
Schlagworte
Mustererkennung, Computer science, Computational complexity, Artificial intelligence, Computer graphics, Computer vision, Optical pattern recognition