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VLSI test principles and architectures : design for testability
2006
Signatur: YGQ4638

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
VLSI test principles and architectures : design for testability
Ort / Verlag
Amsterdam [u.a.] : Elsevier
Erscheinungsjahr
2006
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9780123705976, 0123705975
OCLC-Nummer: 636673808, 636673808
Titel-ID: 990013741490106463
Format
XXX, 777 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YGQ
Schlagworte
VLSI, Integrated circuits

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