2. ed., repr, 1998
Signatur: YEM2214(2)
Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- Failure mechanisms in semiconductor devices
- Auflage
- 2. ed., repr
- Ort / Verlag
- Chichester [u.a.] : Wiley
- Erscheinungsjahr
- 1998
- Link zu anderen Inhalten
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISBN: 0471954829OCLC-Nummer: 1106979898, 1106979898Titel-ID: 990009496150106463
- Format
- XII, 345 S. : Ill., graph. Darst.
- Systemstelle
- YEM