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Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- Semiconductor material and device characterization
- Auflage
- 3. ed
- Ort / Verlag
- [Piscataway, NJ] [u.a.] : IEEE Press [u.a.]
- Erscheinungsjahr
- 2006
- Link zu anderen Inhalten
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISBN: 9780471739067, 0471739065OCLC-Nummer: 1073122682, 1073122682Titel-ID: 990009373050106463
- Format
- XV, 779 S. : Ill., zahlr. graph. Darst.
- Systemstelle
- YET, UIU
- Schlagworte
- Halbleiterschaltung, Prüftechnik, Halbleiter, Halbleiterwerkstoff, Halbleiterbauelement, Semiconductors