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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
4. Konferenz über Optische Analysenmesstechnik in Industrie und Umwelt : Anwendungen und Trends ; 7. - 8. Oktober 2004, Düsseldorf
Ist Teil von
Auflage
Nichtred. Ms.-Dr
Ort / Verlag
Düsseldorf : VDI-Verl.
Erscheinungsjahr
2004
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Sprache
Deutsch; Englisch
Identifikatoren
ISBN: 3180918632
OCLC-Nummer: 76568964, 76568964
Titel-ID: 990008888100106463
Format
252 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
WAW
Schlagworte
Technische Überwachung, Optische Analyse, Umweltüberwachung

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