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Scanning probe microscopy : analytical methods
Nanoscience and technology
1998
Signatur: UFF1786

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Scanning probe microscopy : analytical methods
Ist Teil von
  • Nanoscience and technology
Ort / Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1998
Link zu anderen Inhalten
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 3540638156
OCLC-Nummer: 247744240, 247744240
Titel-ID: 990007630690106463
Format
XI, 216 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UTF, VUT, UFF
Schlagworte
Rastersondenmikroskopie

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