Am Donnerstag, den 15.8. kann es zwischen 16 und 18 Uhr aufgrund von Wartungsarbeiten des ZIM zu Einschränkungen bei der Katalognutzung kommen.
Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- 9. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik "AOFA 9" : Aachen, June 24 - 27, 1996 = Applied surface analysis
- Ist Teil von
- Ort / Verlag
- Berlin [u.a.] : Springer
- Erscheinungsjahr
- 1997
- Beschreibungen/Notizen
- Enth. u.a.: Surface analysis by nondestructive testing techniques / Kröning M., Häußler F., Arnold W. Optical spectroscopy for in situ characterization of semiconductor interfaces and layers / Zahn D. R. T.
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
OCLC-Nummer: 312824642, 312824642
Titel-ID: 990007216990106463
- Format
- 19, 360 S. : Ill., graph. Darst.
- Systemstelle
- 70
Lade weitere Informationen...