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Analog signal generation for built in self test of mixed signal integrated circuits
The Kluwer international series in engineering and computer science : 312 (Alle Bände)
2. print, 1996
Signatur: YCB5015

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Analog signal generation for built in self test of mixed signal integrated circuits
Ist Teil von
Auflage
2. print
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Kluwer Acad. Publ.
Erscheinungsjahr
1996
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0792395646
OCLC-Nummer: 916002871, 916002871
Titel-ID: 990007069980106463
Format
VIII, 122 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YCI, YCB
Schlagworte
Hybridschaltung, Selbsttest

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