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  • BibTeX
Tiefe Punktdefekte in II-VI-Halbleitern
1995
Signatur: UIU3858, P874

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Tiefe Punktdefekte in II-VI-Halbleitern
Erscheinungsjahr
1995
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Beschreibungen/Notizen
  • Paderborn, Univ.-Gesamthochschule, Diss., 1995
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 637178168, 637178168
Titel-ID: 990006985630106463
Format
124 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UOO, UIU

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