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Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995. 2
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors (Alle Bände)
1995

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995. 2
Ist Teil von
Ort / Verlag
Zuerich-Uetikon : Trans Tech Publ.
Erscheinungsjahr
1995
Link zu anderen Inhalten
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0878497137
OCLC-Nummer: 916099697, 916099697
Titel-ID: 990006979340106463
Format
LXIII S., S. 580 - 1107 : graph. Darst.
Systemstelle
UIM

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