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Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A
Materials Research Society symposium proceedings : 378 (Alle Bände)
1995
Signatur: UIU3840

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A
Ist Teil von
Ort / Verlag
Pittsburgh, Pa. : MRS
Erscheinungsjahr
1995
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Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 1558992812
OCLC-Nummer: 635758900, 635758900
Titel-ID: 990006873640106463
Format
XXI, 1054 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YET, UIU
Schlagworte
Halbleiter, Gitterbaufehler

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