UNIVERSI
TÄ
TS-
BIBLIOTHEK
P
ADERBORN
Anmelden
Menü
Menü
Start
Hilfe
Blog
Weitere Dienste
Neuerwerbungslisten
Fachsystematik Bücher
Erwerbungsvorschlag
Bestellung aus dem Magazin
Fernleihe
Einstellungen
Sprache
Deutsch
Deutsch
Englisch
Farbschema
Hell
Dunkel
Automatisch
Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist
gegebenenfalls
nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich.
mehr Informationen...
Universitätsbibliothek
Katalog
Suche
Details
Zur Ergebnisliste
Ergebnis 1 von 10
Datensatz exportieren als...
BibTeX
Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A
Materials Research Society symposium proceedings : 378
(
Alle Bände
)
Ashok, S
[Herausgeber]
1995
Signatur:
UIU3840
Details
Autor(en) / Beteiligte
Ashok, S
[Herausgeber]
Titel
Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A
Ist Teil von
Materials Research Society symposium proceedings : 378
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Pittsburgh, Pa. : MRS
Erscheinungsjahr
1995
Link zu anderen Inhalten
Inhaltsverzeichnis
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 1558992812
OCLC-Nummer: 635758900, 635758900
Titel-ID: 990006873640106463
Format
XXI, 1054 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YET
,
UIU
Schlagworte
Halbleiter
,
Gitterbaufehler
Lade weitere Informationen...