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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : Gmunden, Austria, July 18 - 23, 1993
Ist Teil von
Ort / Verlag
Aedermannsdorf [u.a.] : Trans Tech Publ.
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 0878496718
OCLC-Nummer: 61896962, 61896962
Titel-ID: 990006473760106463
Format
Systemstelle
UIM
Schlagworte
Halbleiter, Gitterbaufehler

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