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Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26 - May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A
Materials Research Society symposium proceedings : 262 (Alle Bände)
1992
Signatur: UIU3450

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26 - May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A
Ist Teil von
Ort / Verlag
Pittsburgh, Pa.
Erscheinungsjahr
1992
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Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1558991573
OCLC-Nummer: 246780641, 246780641
Titel-ID: 990006119240106463
Format
XIX, 1144 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YET, UIU
Schlagworte
Gitterbaufehler, Fehler, Halbleiter

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