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Neural models and algorithms for digital testing
The Kluwer international series in engineering and computer science : 140
(
Alle Bände
)
Chakradhar, Srimat T
Agrawal, Vishwani D
Bushnell, Michael L
1991
Signatur:
TVI2348
Details
Autor(en) / Beteiligte
Chakradhar, Srimat T
Agrawal, Vishwani D
Bushnell, Michael L
Titel
Neural models and algorithms for digital testing
Ist Teil von
The Kluwer international series in engineering and computer science : 140
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Boston, Mass. [u.a.] : Kluwer Acad. Publ.
Erscheinungsjahr
1991
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0792391659
OCLC-Nummer: 246511554, 246511554
Titel-ID: 990005777430106463
Format
XII, 184 S. : graph. Darst.
Systemstelle
TVI
Schlagworte
Logische Schaltung
,
Entwurfsautomation
,
Testen
,
Algorithmus
,
Neuronales Netz
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