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Defektcharakterisierung in Verbindungshalbleitern durch rasterelektronenmikroskopische Methoden
Eckstein, Michael
1990
Signatur:
D4375
Details
Autor(en) / Beteiligte
Eckstein, Michael
Titel
Defektcharakterisierung in Verbindungshalbleitern durch rasterelektronenmikroskopische Methoden
Erscheinungsjahr
1990
Beschreibungen/Notizen
Stuttgart, Univ., Diss., 1991
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 636076513, 636076513
Titel-ID: 990005745030106463
Format
144 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIU
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