Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbook
- Ort / Verlag
- New York [u.a.] : Plenum Pr.
- Erscheinungsjahr
- c 1990
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISBN: 0306435918OCLC-Nummer: 263152526, 263152526Titel-ID: 990005501700106463
- Format
- XI, 407 S. : Ill., graph. Darst.
- Systemstelle
- UFF
- Schlagworte
- Elektronenmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Elektronenstrahlmikroanalyse