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Semiconductor material and device characterization
A Wiley-Interscience publication
1990
Signatur: UIU3426

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Semiconductor material and device characterization
Ist Teil von
  • A Wiley-Interscience publication
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Wiley
Erscheinungsjahr
1990
Link zu anderen Inhalten
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0471511048
OCLC-Nummer: 831357165, 831357165
Titel-ID: 990005413890106463
Format
XV, 599 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YET, UIU
Schlagworte
Halbleiterwerkstoff, Halbleiterbauelement, Halbleiterschaltung, Prüftechnik, Halbleiter

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