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Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
IEE computing series : 15 (Alle Bände)
1989
Signatur: YGQ2987

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Ist Teil von
Ort / Verlag
London : Peregrinus
Erscheinungsjahr
1989
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0863411657
OCLC-Nummer: 1070077191, 1070077191
Titel-ID: 990005269100106463
Format
VI, 315 S.
Systemstelle
YGQ
Schlagworte
VLSI, Entwurf, Prüftechnik, Wafer-Integration

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